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310CD 110kHz高速光學斬波器是一種葉片直徑為102mm的高速機械式光學斬波器. Z高斬波頻率可達110kHz，而且具有非常好的穩(wěn)定性，*了普通機械調制和晶體調制之間的空白。

產品介紹：法國Phasics SID4系列波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術的改進型，這種*的技術將超高分辨率和超大動態(tài)范圍結合在一起。任何應用下，其都能實現全面、簡便、快速的測量。

TTI（Terahertz Technologies Inc.）生產的TIA-525，TIA-527，TIA-952系列光電探測器BNC接口可以直接連接示波器或者數字接收設備。TIA-1200，TIA-2000，TIA-3000，TIA-4000為K型SMA母口。光纖耦合和自由空間輸入可選，使用轉接線或者適配器能適應各種光纖輸入。TTI 光電轉換器 TIA525

LDR 905 SR 實時迷你2 D激光雷達測距儀 LDR 905 SR實時迷你2 D激光雷達傳感器是比較好的激光雷達測距系統(tǒng).超緊湊、輕、低功耗的設計使得LDR 905 SR成為實時2維小型雷達測量的產品之一，滿足于無人機與無人駕駛的傳感系統(tǒng)需求。 該傳感器的設計用來滿足自主車輛嚴格的SWAP需求。例如：無人機（UAV）自動著陸系統(tǒng)、映射和“感知和避免”系統(tǒng)。

metrolux BM3745 UV/VIS激光光束質量儀 metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。

UVM10 -UV光束質量分析儀$n metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。$n 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。

Metrolux VIS-NIR 光束質量分析儀 產品簡介 metrolux激光光束分析儀可測量激光強度分布，范圍包括EUV，UV，VIS和NIR，光斑直徑從1µm - 100 mm，可按EN-ISO標準記錄和分析光束。 具有適合于分析光斑和光束位置以及用于均勻激光光束特點描述的各種軟件工具，可選附件便于協調脈沖激光器和單脈沖的測量。

FM系列焦斑質量分析儀 緊湊的探測器頭由一個CCD傳感器、一個集成的衰減器、一個近場透鏡和Beamlux Ⅱ高級分析軟件組成。功率與工作距離與適配的探測器選擇有關，詳見下方型號選擇表格。 大范圍波長可選，根據近場透鏡確保對大數值孔徑和高脈沖功率密度的光斑進行測量。